Tipsa dina vänner om produkten:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Ireneusz Mrozek 1st ed. 2019 edition
Pris
SEK 569
Beställningsvara
Förväntad leverans 28 okt - 5 nov
Få avisering om nya utgåvor med Ireneusz Mrozek
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Ireneusz Mrozek
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.
135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
| Media | Böcker Inbunden Bok (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag) |
| Releasedatum | 18 juli 2018 |
| ISBN13 | 9783319912035 |
| Utgivare | Springer International Publishing AG |
| Antal sidor | 135 |
| Mått | 150 × 220 × 20 mm · 454 g |
| Språk | Franska |