Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Böcker - Springer International Publishing AG - 9783319912035 - 18 juli 2018
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

Pris
SEK 569

Beställningsvara

Förväntad leverans 28 okt - 5 nov
Få avisering om nya utgåvor med Ireneusz Mrozek
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 18 juli 2018
ISBN13 9783319912035
Utgivare Springer International Publishing AG
Antal sidor 135
Mått 150 × 220 × 20 mm   ·   454 g
Språk Franska  

Mer från samma **utgivare**