Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Böcker - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 1 februari 2019
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Ireneusz Mrozek
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Pris
SEK 569

Beställningsvara

Förväntad leverans 24 sep - 2 okt
Få avisering om nya utgåvor med Ireneusz Mrozek

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 1 februari 2019
ISBN13 9783030081980
Utgivare Springer Nature Switzerland AG
Antal sidor 135
Mått 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
Språk Tyska  

Mer från samma **utgivare**

Se alt med Ireneusz Mrozek