Tipsa dina vänner om produkten:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Peter Pichler 2004 edition
Pris
SEK 3.679
Beställningsvara
Förväntad leverans 10 - 24 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med Peter Pichler
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
| Media | Böcker Inbunden Bok (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag) |
| Releasedatum | 2 juni 2004 |
| ISBN13 | 9783211206874 |
| Utgivare | Springer Verlag GmbH |
| Antal sidor | 554 |
| Mått | 178 × 254 × 31 mm · 1,18 kg |
| Språk | Engelska Tyska |