Tipsa dina vänner om produkten:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Peter Pichler Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition
Pris
SEK 3.159
Beställningsvara
Förväntad leverans 9 - 17 sep
Få avisering om nya utgåvor med Peter Pichler
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
| Media | Böcker Pocketbok (Bok med mjukt omslag och limmad rygg) |
| Releasedatum | 1 november 2012 |
| ISBN13 | 9783709172049 |
| Utgivare | Springer Verlag GmbH |
| Antal sidor | 554 |
| Mått | 178 × 254 × 30 mm · 1,01 kg |
| Språk | Engelska |