Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Böcker - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692087 - 20 april 2021
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Sebastian Huhn
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Pris
SEK 1.219

Beställningsvara

Förväntad leverans 20 - 28 okt
Få avisering om nya utgåvor med Sebastian Huhn

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 20 april 2021
ISBN13 9783030692087
Utgivare Springer Nature Switzerland AG
Antal sidor 164
Mått 150 × 220 × 20 mm   ·   439 g
Språk Tyska  

Fler produkter med Sebastian Huhn

Visa alla

Mer från samma **utgivare**

Se alt med Sebastian Huhn