Tipsa dina vänner om produkten:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques Sebastian Huhn 2021 edition
Pris
SEK 1.189
Beställningsvara
Förväntad leverans 9 - 17 sep
Få avisering om nya utgåvor med Sebastian Huhn
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Sebastian Huhn
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.
| Media | Böcker Pocketbok (Bok med mjukt omslag och limmad rygg) |
| Releasedatum | 20 april 2022 |
| ISBN13 | 9783030692117 |
| Utgivare | Springer Nature Switzerland AG |
| Antal sidor | 164 |
| Mått | 150 × 220 × 10 mm · 296 g |
| Språk | Tyska |
Fler produkter med Sebastian Huhn
Visa allaMer från samma **utgivare**
Se alt med Sebastian Huhn ( t.ex. Inbunden Bok , Pocketbok och Bok )