Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Böcker - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692117 - 20 april 2022
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Pris
SEK 1.189

Beställningsvara

Förväntad leverans 9 - 17 sep
Få avisering om nya utgåvor med Sebastian Huhn
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 20 april 2022
ISBN13 9783030692117
Utgivare Springer Nature Switzerland AG
Antal sidor 164
Mått 150 × 220 × 10 mm   ·   296 g
Språk Tyska  

Fler produkter med Sebastian Huhn

Visa alla

Mer från samma **utgivare**