Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Böcker - Springer London Ltd - 9781848820586 - 1 december 2008
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

Pris
SEK 1.609

Beställningsvara

Förväntad leverans 4 - 12 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med Edmund G. Seebauer
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 1 december 2008
ISBN13 9781848820586
Utgivare Springer London Ltd
Antal sidor 298
Mått 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
Språk Engelska  

Mer från samma **utgivare**