Tipsa dina vänner om produkten:
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Edmund G. Seebauer 2009 edition
Pris
SEK 1.609
Beställningsvara
Förväntad leverans 4 - 12 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med Edmund G. Seebauer
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes
Edmund G. Seebauer
"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.
298 pages, 30 black & white tables, biography
| Media | Böcker Inbunden Bok (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag) |
| Releasedatum | 1 december 2008 |
| ISBN13 | 9781848820586 |
| Utgivare | Springer London Ltd |
| Antal sidor | 298 |
| Mått | 155 × 235 × 25 mm · 635 g |
| Språk | Engelska |