Tipsa dina vänner om produkten:
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Edmund G. Seebauer Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition
Pris
SEK 1.619
Beställningsvara
Förväntad leverans 25 sep - 5 okt
Få avisering om nya utgåvor med Edmund G. Seebauer
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes
Edmund G. Seebauer
"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.
298 pages, 30 black & white tables, biography
| Media | Böcker Pocketbok (Bok med mjukt omslag och limmad rygg) |
| Releasedatum | 22 oktober 2010 |
| ISBN13 | 9781849968201 |
| Utgivare | Springer London Ltd |
| Antal sidor | 298 |
| Mått | 155 × 235 × 16 mm · 435 g |
| Språk | Engelska |