CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Böcker - Materials Research Society - 9781605111285 - 19 november 2009
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

Pris
SEK 1.359

Beställningsvara

Förväntad leverans 5 - 19 okt

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

179 pages, illustrations

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 19 november 2009
ISBN13 9781605111285
Utgivare Materials Research Society
Antal sidor 194
Mått 160 × 236 × 18 mm   ·   432 g
Språk Engelska  
Redaktör Butterbaugh, Jeffery W.
Redaktör Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Redaktör Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Redaktör Rachmady, Willy
Redaktör Taylor, Bill

Mer från samma **utgivare**