CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Böcker - Cambridge University Press - 9781107408326 - 5 juni 2014
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

Pris
SEK 459

Beställningsvara

Förväntad leverans 13 - 27 aug

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

194 pages, black & white illustrations

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 5 juni 2014
ISBN13 9781107408326
Utgivare Cambridge University Press
Antal sidor 194
Mått 152 × 229 × 10 mm   ·   412 g   (Estimerad vikt)
Språk Engelska  
Redaktör Butterbaugh, Jeffery W.
Redaktör Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Redaktör Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Redaktör Rachmady, Willy
Redaktör Taylor, Bill

Mer från samma **utgivare**