Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Manoj Sachdev - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387465463 - 21 juni 2007
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Manoj Sachdev
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing 2nd ed. 2007 edition

Pris
SEK 2.139

Beställningsvara

Förväntad leverans 4 - 12 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med Manoj Sachdev

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

328 pages, biography

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 21 juni 2007
ISBN13 9780387465463
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 328
Mått 155 × 235 × 20 mm   ·   721 g
Språk Engelska  

Mer från samma **utgivare**

Se alt med Manoj Sachdev