Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Böcker - Springer Science+Business Media - 9780306443602 - 31 juli 1993
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices 1993 edition

Pris
SEK 1.919

Beställningsvara

Förväntad leverans 19 nov - 3 dec
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med John T L Thong

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

Marc Notes: Includes bibliographical references and index. Table of Contents: Background to Electron Beam Testing; W. C. Nixon. Introduction; J. T. L. Thong. Principles and Applications; J. T. L. Thong. Essential Electron Optics; A. R. Dinnis. Electron Beam Interaction with Specimen; K. Ura. Electron Spectrometers and Voltage Measurements; L. Dubbeldam. High Speed Techniques; J. T. L. Thong. Picosecond Photoemission Probing; H. Beha, R. Clauberg. Signal and Image Processing; F. M. Boland, E. R. Lynch. System Integration; M. Battu, et al. Practical Considerations in Electron Beam Testing; T. J. Aton. Industrial Case Studies; D. W. Ranasinghe, et al. Index."

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 31 juli 1993
ISBN13 9780306443602
Utgivare Springer Science+Business Media
Antal sidor 462
Mått 178 × 254 × 32 mm   ·   1,05 kg
Redaktör Thong, John T.L.

Mer från samma **utgivare**

Se alt med John T L Thong