Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 4 juni 2013
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Pris
SEK 2.009

Beställningsvara

Förväntad leverans 12 - 26 aug
Få avisering om nya utgåvor med John T L Thong

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 4 juni 2013
ISBN13 9781489915245
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 462
Mått 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Språk Engelska  
Redaktör Thong, John T.L.

Mer från samma **utgivare**

Se alt med John T L Thong ( t.ex. Inbunden Bok och Pocketbok )