Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Cher Ming Tan - Böcker - Springer Verlag, Singapore - 9789814451208 - 4 maj 2013
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Cher Ming Tan
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 2013 edition

Pris
SEK 569

Beställningsvara

Förväntad leverans 12 - 20 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med Cher Ming Tan

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

120 pages, 73 black & white illustrations, 2 colour illustrations, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 4 maj 2013
ISBN13 9789814451208
Utgivare Springer Verlag, Singapore
Antal sidor 103
Mått 155 × 235 × 6 mm   ·   1,88 kg

Fler produkter med Cher Ming Tan

Visa alla

Mer från samma **utgivare**

Se alt med Cher Ming Tan