High Performance Gan Light-emitting Diode: a Reliability Study - Zonglin Li - Böcker - LAP LAMBERT Academic Publishing - 9783844395297 - 17 maj 2011
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Zonglin Li
High Performance Gan Light-emitting Diode: a Reliability Study

Pris
SEK 479

Beställningsvara

Förväntad leverans 28 okt - 5 nov
Få avisering om nya utgåvor med Zonglin Li

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

The reliability of InGaN/GaN light emitting diodes (LEDs) with different emission wavelengths and different geometries was studied. Device performances, like current-voltage characteristics, 1/f noise spectrum, leakage, static resistance, were measured. The devices underwent a 1000-hr constant-current stress test and their optical output degradation rate was examined. The results were explained by cross-related data.

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 17 maj 2011
ISBN13 9783844395297
Utgivare LAP LAMBERT Academic Publishing
Antal sidor 80
Mått 150 × 5 × 226 mm   ·   137 g
Språk Tyska  

Se alt med Zonglin Li