Tipsa dina vänner om produkten:
Field-Ion Microscopy - Crystals R. Wagner Softcover reprint of the original 1st ed. 1982 edition
Pris
SEK 1.079
Beställningsvara
Förväntad leverans 25 nov - 3 dec
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med R. Wagner
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Field-Ion Microscopy - Crystals
R. Wagner
Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal.
134 pages, biography
| Media | Böcker Pocketbok (Bok med mjukt omslag och limmad rygg) |
| Releasedatum | 7 december 2011 |
| ISBN13 | 9783642686894 |
| Utgivare | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antal sidor | 118 |
| Mått | 170 × 244 × 7 mm · 226 g |
| Språk | Tyska |