Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology - S Morita - Böcker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642627729 - 23 oktober 2012
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

S Morita
Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Pris
SEK 2.139

Beställningsvara

Förväntad leverans 4 - 12 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med S Morita

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

458 pages, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 23 oktober 2012
ISBN13 9783642627729
Utgivare Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sidor 440
Mått 155 × 235 × 24 mm   ·   639 g
Språk Tyska  
Redaktör Meyer, E.
Redaktör Morita, S.
Redaktör Wiesendanger, Roland

Mer från samma **utgivare**

Se alt med S Morita