Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Böcker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642445019 - 26 november 2014
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2012 edition

Pris
SEK 1.609

Beställningsvara

Förväntad leverans 12 - 20 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med Hui Xie
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.


344 pages, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 26 november 2014
ISBN13 9783642445019
Utgivare Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sidor 344
Mått 155 × 235 × 19 mm   ·   503 g
Språk Engelska  

Mer från samma **utgivare**