Tipsa dina vänner om produkten:
Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics Hui Xie 2012 edition
Pris
SEK 1.609
Beställningsvara
Förväntad leverans 12 - 20 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med Hui Xie
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics
Hui Xie
The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.
344 pages, biography
| Media | Böcker Pocketbok (Bok med mjukt omslag och limmad rygg) |
| Releasedatum | 26 november 2014 |
| ISBN13 | 9783642445019 |
| Utgivare | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antal sidor | 344 |
| Mått | 155 × 235 × 19 mm · 503 g |
| Språk | Engelska |