Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology -  - Böcker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540850380 - 4 november 2008
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition

Pris
SEK 1.559

Beställningsvara

Förväntad leverans 16 - 24 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.


279 pages, 14 black & white tables, biography

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 4 november 2008
ISBN13 9783540850380
Utgivare Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sidor 224
Mått 162 × 244 × 16 mm   ·   542 g
Språk Tyska  
Redaktör Bhushan, Bharat
Redaktör Fuchs, Harald

Mer från samma **utgivare**