Tipsa dina vänner om produkten:
Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition
Pris
SEK 1.559
Beställningsvara
Förväntad leverans 16 - 24 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology
Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.
279 pages, 14 black & white tables, biography
| Media | Böcker Inbunden Bok (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag) |
| Releasedatum | 4 november 2008 |
| ISBN13 | 9783540850380 |
| Utgivare | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antal sidor | 224 |
| Mått | 162 × 244 × 16 mm · 542 g |
| Språk | Tyska |
| Redaktör | Bhushan, Bharat |
| Redaktör | Fuchs, Harald |