Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489985101 - 28 november 2014
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Pris
SEK 1.149

Beställningsvara

Förväntad leverans 18 - 26 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med Rajesh Garg

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 28 november 2014
ISBN13 9781489985101
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 212
Mått 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Språk Engelska  

Mer från samma **utgivare**

Se alt med Rajesh Garg