Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - Alberto Bosio - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489983145 - 3 september 2014
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies 2010 edition

Pris
SEK 1.099

Beställningsvara

Förväntad leverans 28 okt - 5 nov
Få avisering om nya utgåvor med Alberto Bosio
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.


171 pages, 22 black & white tables, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 3 september 2014
ISBN13 9781489983145
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 171
Mått 155 × 235 × 10 mm   ·   272 g
Språk Engelska  

Mer från samma **utgivare**