Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 - Samuel H Cohen - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475793277 - 4 juni 2013
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Pris
SEK 1.609

Beställningsvara

Förväntad leverans 4 - 12 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med Samuel H Cohen
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994


259 pages, 250 black & white illustrations, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 4 juni 2013
ISBN13 9781475793277
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 250
Mått 178 × 254 × 14 mm   ·   462 g
Språk Engelska  
Redaktör Cohen, Samuel H.
Redaktör Lightbody, Marcia L.

Fler produkter med Samuel H Cohen

Andra i samma serie

Mer från samma **utgivare**