Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - 30 januari 2012
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Otto Meyer
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Pris
SEK 679

Beställningsvara

Förväntad leverans 6 - 20 aug
Få avisering om nya utgåvor med Otto Meyer

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.

508 pages, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 30 januari 2012
ISBN13 9781461588818
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 491
Mått 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Språk Engelska  
Redaktör Meyer, Otto

Fler produkter med Otto Meyer

Visa alla

Andra i samma serie

Mer från samma **utgivare**

Se alt med Otto Meyer ( t.ex. Inbunden Bok , Pocketbok och DVD )