Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1 - Otto Meyer - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588788 - 31 maj 2013
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Pris
SEK 569

Beställningsvara

Förväntad leverans 1 - 9 okt
Få avisering om nya utgåvor med Otto Meyer
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


524 pages, black & white illustrations

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 31 maj 2013
ISBN13 9781461588788
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 494
Mått 178 × 254 × 26 mm   ·   898 g
Språk Engelska  

Fler produkter med Otto Meyer

Visa alla

Andra i samma serie

Mer från samma **utgivare**