Thermal Testing of Integrated Circuits - J. Altet - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952875 - 21 september 2011
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

J. Altet
Thermal Testing of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Pris
SEK 1.089

Beställningsvara

Förväntad leverans 11 - 19 nov
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med J. Altet

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. In this book, the authors present the feasibility of considering temperature as an observable for testing purposes, with full coverage of the state of the art.

204 pages, 102 black & white illustrations, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 21 september 2011
ISBN13 9781441952875
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 204
Mått 155 × 235 × 12 mm   ·   322 g
Språk Engelska  

Mer från samma **utgivare**

Se alt med J. Altet