High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics - Ullrich Pietsch - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923073 - 12 december 2011
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004. Softcover reprint of the original 2n edition

Pris
SEK 969

Beställningsvara

Förväntad leverans 27 okt - 4 nov
Få avisering om nya utgåvor med Ullrich Pietsch
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.


408 pages, 389 black & white illustrations, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 12 december 2011
ISBN13 9781441923073
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 408
Mått 155 × 235 × 22 mm   ·   594 g
Språk Engelska  

Mer från samma **utgivare**