Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing - Said Hamdioui - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402077524 - 31 mars 2004
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Said Hamdioui
Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns - Frontiers in Electronic Testing 2004 edition

Pris
SEK 1.079

Beställningsvara

Förväntad leverans 25 nov - 3 dec
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Få avisering om nya utgåvor med Said Hamdioui

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Features: -Fault primitive based analysis of memory faults, -A complete framework of and classification memory faults, -A systematic way to develop optimal and high quality memory test algorithms, -A systematic way to develop test patterns for any multi-port SRAM, -Challenges and trends in embedded memory testing.

221 pages, biography

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 31 mars 2004
ISBN13 9781402077524
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 221
Mått 155 × 235 × 14 mm   ·   526 g
Språk Engelska  

Mer från samma **utgivare**

Se alt med Said Hamdioui