VLSI Design and Test for Systems Dependability - - Böcker - Springer Verlag, Japan - 9784431565925 - 1 augusti 2018
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

VLSI Design and Test for Systems Dependability 1st ed. 2019 edition

Få ett e-postmeddelande när artikeln är tillgänglig
Har du en profil? Logga in

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

This book discusses the new roles that the VLSI (very-large-scale integration of semiconductor circuits) is taking for the safe, secure, and dependable design and operation of electronic systems. The book consists of three parts.

800 pages, 20 Tables, color; 352 Illustrations, color; 233 Illustrations, black and white; XVII, 800

Media Böcker     Bok
Releasedatum 1 augusti 2018
ISBN13 9784431565925
Utgivare Springer Verlag, Japan
Antal sidor 800
Mått 164 × 242 × 50 mm   ·   1,38 kg
Redaktör Asai, Shojiro

Mer från samma **utgivare**