Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology -  - Böcker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - 12 februari 2010
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Pris
SEK 1.149

Beställningsvara

Förväntad leverans 4 - 12 aug
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 12 februari 2010
ISBN13 9783642065965
Utgivare Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sidor 378
Mått 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
Språk Tyska  
Redaktör Bhushan, Bharat
Redaktör Fuchs, Harald

Mer från samma **utgivare**