Tipsa dina vänner om produkten:
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition
Pris
SEK 1.149
Beställningsvara
Förväntad leverans 4 - 12 aug
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology
There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.
378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph
| Media | Böcker Pocketbok (Bok med mjukt omslag och limmad rygg) |
| Releasedatum | 12 februari 2010 |
| ISBN13 | 9783642065965 |
| Utgivare | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Antal sidor | 378 |
| Mått | 155 × 235 × 21 mm · 639 g |
| Språk | Tyska |
| Redaktör | Bhushan, Bharat |
| Redaktör | Fuchs, Harald |