Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Böcker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 12 februari 2010
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Pris
SEK 1.149

Beställningsvara

Förväntad leverans 23 - 31 jul

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 12 februari 2010
ISBN13 9783642065699
Utgivare Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sidor 420
Mått 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Språk Tyska  
Redaktör Bhushan, Bharat
Redaktör Fuchs, Harald

Mer från samma **utgivare**