Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Sayil - Böcker - Springer International Publishing AG - 9783319696720 - 4 december 2017
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 1st ed. 2018 edition

Pris
SEK 1.099

Beställningsvara

Förväntad leverans 7 - 15 okt
Få avisering om nya utgåvor med Sayil

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

Media Böcker     Bok
Releasedatum 4 december 2017
ISBN13 9783319696720
Utgivare Springer International Publishing AG
Antal sidor 93
Mått 150 × 220 × 20 mm   ·   343 g
Språk Tyska  

Mer från samma **utgivare**

Se alt med Sayil