Tipsa dina vänner om produkten:
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation Fangzhou Xia
Pris
SEK 719
Beställningsvara
Förväntad leverans 5 - 13 okt
Få avisering om nya utgåvor med Fangzhou Xia
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Fangzhou Xia
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
| Media | Böcker Pocketbok (Bok med mjukt omslag och limmad rygg) |
| Releasedatum | 7 februari 2025 |
| ISBN13 | 9783031442353 |
| Utgivare | Springer International Publishing AG |
| Antal sidor | 366 |
| Mått | 150 × 220 × 10 mm · 664 g |
| Språk | Tyska |