Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - Böcker - Springer International Publishing AG - 9783031442353 - 7 februari 2025
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

Pris
SEK 719

Beställningsvara

Förväntad leverans 5 - 13 okt
Få avisering om nya utgåvor med Fangzhou Xia
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 7 februari 2025
ISBN13 9783031442353
Utgivare Springer International Publishing AG
Antal sidor 366
Mått 150 × 220 × 10 mm   ·   664 g
Språk Tyska  

Mer från samma **utgivare**