Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability - Synthesis Lectures on Solid State Materials and Devices - Young-Hee Kim - Böcker - Springer International Publishing AG - 9783031014246 - 31 december 2007
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Young-Hee Kim
Hf-Based High-k Dielectrics: Process Development, Performance Characterization, and Reliability - Synthesis Lectures on Solid State Materials and Devices

Få ett e-postmeddelande när artikeln är tillgänglig
Har du en profil? Logga in
Få avisering om nya utgåvor med Young-Hee Kim

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Hard breakdown and soft breakdown, particularly the Weibull slopes, were studied under constant voltage stress. The origin of soft breakdown (first breakdown) was studied and the results suggested that the soft breakdown may be due to one layer breakdown in the bilayer structure (HfO2/SiO2: 4 nm/4 nm).

92 pages, X, 92 p.

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 31 december 2007
ISBN13 9783031014246
Utgivare Springer International Publishing AG
Antal sidor 92
Mått 234 × 191 × 13 mm   ·   220 g
Språk Engelska  

Fler produkter med Young-Hee Kim

Visa alla

Mer från samma **utgivare**

Se alt med Young-Hee Kim ( t.ex. Pocketbok )