Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics - - Böcker - Springer Nature Switzerland AG - 9783030156114 - 24 augusti 2019
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics 1st ed. 2019 edition

Pris
SEK 1.869

Beställningsvara

Förväntad leverans 17 - 25 jun

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.

408 pages, 60 Tables, color; 230 Illustrations, color; 26 Illustrations, black and white; XX, 408 p.

Media Böcker     Bok
Releasedatum 24 augusti 2019
ISBN13 9783030156114
Utgivare Springer Nature Switzerland AG
Antal sidor 408
Mått 150 × 220 × 20 mm   ·   805 g
Språk Tyska  
Redaktör Celano, Umberto

Mere med samme udgiver