Bias Temperature Instability for Devices and Circuits -  - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493955299 - 1 oktober 2016
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

Pris
SEK 1.179

Beställningsvara

Förväntad leverans 9 - 19 okt
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.


821 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 1 oktober 2016
ISBN13 9781493955299
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 810
Mått 150 × 220 × 10 mm   ·   1,37 kg
Språk Engelska  
Redaktör Grasser, Tibor

Mer från samma **utgivare**