Tipsa dina vänner om produkten:
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis Joseph Goldstein 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition
Pris
SEK 1.189
Beställningsvara
Förväntad leverans 9 - 17 sep
Få avisering om nya utgåvor med Joseph Goldstein
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis
Joseph Goldstein
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
709 pages, biography
| Media | Böcker Bok |
| Releasedatum | 31 maj 2013 |
| ISBN13 | 9781461349693 |
| Utgivare | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antal sidor | 689 |
| Mått | 255 × 182 × 43 mm · 1,22 kg |
| Språk | Engelska |
Fler produkter med Joseph Goldstein
Visa allaMer från samma **utgivare**
Se alt med Joseph Goldstein ( t.ex. Pocketbok , Bok , Inbunden Bok , CD och Orakelkort/tarotkort )