Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications - Weilie Zhou - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441922090 - 29 oktober 2010
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Weilie Zhou
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and Applications Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2007 edition

Pris
SEK 2.429

Beställningsvara

Förväntad leverans 5 - 13 aug
Få avisering om nya utgåvor med Weilie Zhou

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

538 pages, black & white illustrations

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 29 oktober 2010
ISBN13 9781441922090
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 522
Mått 155 × 235 × 27 mm   ·   743 g
Språk Engelska  
Redaktör Wang, Zhong Lin
Redaktör Zhou, Weilie

Mer från samma **utgivare**

Se alt med Weilie Zhou ( t.ex. Inbunden Bok och Pocketbok )