Tipsa dina vänner om produkten:
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Pris
Mex$ 4.879,18
Beställningsvara
Förväntad leverans 15 - 25 okt
Lägg till din iMusic-önskelista
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition
Gianfranco Pacchioni
Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000
624 pages, 87 black & white illustrations, biography
Media | Böcker Pocketbok (Bok med mjukt omslag och limmad rygg) |
Releasedatum | 31 december 2000 |
ISBN13 | 9780792366867 |
Utgivare | Springer |
Antal sidor | 624 |
Mått | 153 × 234 × 20 mm · 875 g |
Språk | Engelska |
Redaktör | Griscom, David L. |
Redaktör | Pacchioni, Gianfranco |
Redaktör | Skuja, Linards |
Visa alla
Fler produkter med Gianfranco Pacchioni
Se alt med Gianfranco Pacchioni ( t.ex. Bok och Pocketbok )