Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Böcker - Springer Science+Business Media - 9780306421402 - 31 mars 1986
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 1986 edition


Få ett e-postmeddelande när artikeln är tillgänglig
Har du en profil? Logga in
Få avisering om nya utgåvor med Patrick Echlin
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


454 pages, biography

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 31 mars 1986
ISBN13 9780306421402
Utgivare Springer Science+Business Media
Antal sidor 454
Mått 156 × 234 × 27 mm   ·   721 g
Språk Engelska  

Fler produkter med Patrick Echlin

Visa alla

Mer från samma **utgivare**