Tipsa dina vänner om produkten:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin 1986 edition
Har du en profil? Logga in
Få avisering om nya utgåvor med Patrick Echlin
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
454 pages, biography
| Media | Böcker Inbunden Bok (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag) |
| Releasedatum | 31 mars 1986 |
| ISBN13 | 9780306421402 |
| Utgivare | Springer Science+Business Media |
| Antal sidor | 454 |
| Mått | 156 × 234 × 27 mm · 721 g |
| Språk | Engelska |
Fler produkter med Patrick Echlin
Visa allaMer från samma **utgivare**
Se alt med Patrick Echlin ( t.ex. Inbunden Bok och Pocketbok )