CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Jiann-Shiun Yuan - Böcker - Springer Verlag, Singapore - 9789811008825 - 21 april 2016
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Jiann-Shiun Yuan
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 1st ed. 2016 edition

Pris
SEK 549

Beställningsvara

Förväntad leverans 5 - 9 jan 2026
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.

106 pages, 101 black & white illustrations, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 21 april 2016
ISBN13 9789811008825
Utgivare Springer Verlag, Singapore
Antal sidor 106
Mått 155 × 235 × 6 mm   ·   1,83 kg

Fler produkter med Jiann-Shiun Yuan

Visa alla

Se alt med Jiann-Shiun Yuan ( t.ex. Bok och Pocketbok )