Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Böcker - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21 februari 2006
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

Pris
SEK 1.859

Beställningsvara

Förväntad leverans 21 aug - 4 sep

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 21 februari 2006
Ursprungligen utgiven 2005
ISBN13 9783540262428
Utgivare Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Antal sidor 420
Mått 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Språk Tyska  
Redaktör Bhushan, Bharat
Redaktör Fuchs, Harald

Mer från samma **utgivare**