Tipsa dina vänner om produkten:
Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
M Lanza
Lägg till din iMusic-önskelista
Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
M Lanza
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
400 pages
Media | Böcker Inbunden Bok (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag) |
Releasedatum | 11 oktober 2017 |
ISBN13 | 9783527340910 |
Utgivare | Wiley-VCH Verlag GmbH |
Antal sidor | 384 |
Mått | 251 × 176 × 25 mm · 978 g |
Språk | Engelska |
Redaktör | Lanza, Mario |
Se alt med M Lanza ( t.ex. Inbunden Bok )