Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) - Böcker - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781848219366 - 12 augusti 2016
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Pris
SEK 1.699

Beställningsvara

Förväntad leverans 8 - 19 jan 2026
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

316 pages, black & white illustrations

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 12 augusti 2016
ISBN13 9781848219366
Utgivare ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Antal sidor 320
Mått 165 × 241 × 23 mm   ·   612 g

Fler produkter med Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France)

Visa alla

Se alt med Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) ( t.ex. Inbunden Bok )