Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - Böcker - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - 6 april 2021
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Pris
SEK 1.699

Beställningsvara

Förväntad leverans 5 - 14 jan 2026
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

288 pages

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 6 april 2021
ISBN13 9781786306876
Utgivare ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Antal sidor 288
Mått 150 × 220 × 20 mm   ·   562 g
Språk Engelska  

Fler produkter med Pierre-Richard Dahoo

Visa alla

Se alt med Pierre-Richard Dahoo ( t.ex. Inbunden Bok )