Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) - Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland) - Böcker - Imperial College Press - 9781783265282 - 18 maj 2015
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland)
Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) 2:a utgåva

Pris
SEK 1.209

Beställningsvara

Förväntad leverans 9 - 20 jan 2026
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.

350 pages

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 18 maj 2015
ISBN13 9781783265282
Utgivare Imperial College Press
Antal sidor 432
Mått 160 × 238 × 23 mm   ·   802 g
Språk Engelska  

Se alt med Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland) ( t.ex. Inbunden Bok )