Quantitative X-Ray Diffractometry - Lev S. Zevin - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461395379 - 27 december 2011
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Lev S. Zevin
Quantitative X-Ray Diffractometry Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Pris
SEK 1.059

Beställningsvara

Förväntad leverans 9 - 17 jun

Våra kunder säger:

14 dagars returrätt
Toppbetyg på Trustpilot
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.

398 pages, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 27 december 2011
ISBN13 9781461395379
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 372
Mått 170 × 244 × 20 mm   ·   630 g
Språk Engelska  
Redaktör Mureinik, Inez

Mere med samme udgiver

Se alt med Lev S. Zevin ( t.ex. Pocketbok )