Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - 31 maj 2013
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

Joseph Goldstein

Pris
R 2.639,40

Beställningsvara

Förväntad leverans 2 - 12 jul
Lägg till din iMusic-önskelista

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.


709 pages, biography

Media Böcker     Bok
Releasedatum 31 maj 2013
ISBN13 9781461349693
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 689
Mått 255 × 182 × 43 mm   ·   1,22 kg
Språk Engelska  

Visa alla

Fler produkter med Joseph Goldstein

Andra har också köpt