Hierarchical Modeling for Vlsi  Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461288190 - 26 september 2011
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1990 edition

Pris
SEK 1.059

Beställningsvara

Förväntad leverans 7 - 15 jan 2026
Julklappar kan bytas fram till 31:e januari
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

160 pages, biography

Media Böcker     Pocketbok   (Bok med mjukt omslag och limmad rygg)
Releasedatum 26 september 2011
ISBN13 9781461288190
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 160
Mått 155 × 235 × 10 mm   ·   254 g
Språk Engelska  

Fler produkter med Debashis Bhattacharya

Visa alla