High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31 januari 2012
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Pris
SEK 1.049

Beställningsvara

Förväntad leverans 4 - 12 aug
Få avisering om nya utgåvor med Stephan Eggersgluss
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 31 januari 2012
Ursprungligen utgiven 2011
ISBN13 9781441999757
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 193
Mått 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Språk Engelska  

Mer från samma **utgivare**