High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Böcker - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - 31 januari 2012
Om omslag och titel inte matchar är det titeln som gäller

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Pris
SEK 1.049

Beställningsvara

Förväntad leverans 30 jul - 7 aug
Få avisering om nya utgåvor med Stephan Eggersgluss
Lägg till din iMusic-önskelista
eller

Inte betygsatt ännu

Finns även som:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Media Böcker     Inbunden Bok   (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag)
Releasedatum 31 januari 2012
Ursprungligen utgiven 2011
ISBN13 9781441999757
Utgivare Springer-Verlag New York Inc.
Antal sidor 193
Mått 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Språk Engelska  

Mer från samma **utgivare**