Tipsa dina vänner om produkten:
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability Stephan Eggersgluss 2012 edition
Pris
SEK 1.049
Beställningsvara
Förväntad leverans 30 jul - 7 aug
Få avisering om nya utgåvor med Stephan Eggersgluss
Lägg till din iMusic-önskelista
eller
Finns även som:
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Stephan Eggersgluss
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
193 pages, 52 black & white tables, biography
| Media | Böcker Inbunden Bok (Inbunden bok med hårda pärmar och skyddsomslag) |
| Releasedatum | 31 januari 2012 |
| Ursprungligen utgiven | 2011 |
| ISBN13 | 9781441999757 |
| Utgivare | Springer-Verlag New York Inc. |
| Antal sidor | 193 |
| Mått | 155 × 235 × 12 mm · 476 g |
| Språk | Engelska |